特許
J-GLOBAL ID:201103053518589539

テストパターン記録方法、及び記録装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 谷 義一 ,  阿部 和夫
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-284937
公開番号(公開出願番号):特開2001-105697
特許番号:特許第4579362号
出願日: 1999年10月05日
公開日(公表日): 2001年04月17日
請求項(抜粋):
【請求項1】 記録装置に搭載される記録部に設けられた複数のノズルの出力特性情報を得るため、濃度センサにより光学的に濃度検出されるテストパターンを記録媒体に記録するテストパターン記録方法であって、 前記記録部に設けられた複数のノズルからなるノズル列を複数のノズルブロックに分割し、前記複数のノズルブロックの中の少なくとも1つのノズルブロックを、他のノズルブロックとは異なる数のノズルを有するように設定する第1のステップと、 前記各ノズルブロックに対応するパッチを同一ノズルブロック内のノズルのみを用い、それぞれ前記濃度センサによって光学的に濃度検出可能な寸法形状に記録する第2のステップとを有し、 前記第2のステップは、1回の主走査方向への記録走査によって各ノズルブロックに対応する複数のパッチそれぞれの一部を記録媒体上に形成することと、前記複数のノズルブロックの中で最も少ないノズル数を有するノズルブロックの幅に対応する距離だけ記録媒体を副走査方向に移動させることとを、交互に複数回行うことにより前記パッチを形成し、 前記テストパターンは、複数の前記パッチにより構成されることを特徴とするテストパターン記録方法。
IPC (2件):
B41J 29/46 ( 200 6.01) ,  B41J 2/01 ( 200 6.01)
FI (3件):
B41J 29/46 A ,  B41J 29/46 D ,  B41J 3/04 101 Z
引用特許:
審査官引用 (5件)
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