特許
J-GLOBAL ID：201103053919751240
プラスチックアンプル用ピンホール検査方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
村上 友一
, 大久保 操
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-316915
公開番号（公開出願番号）：特開2003-121422
特許番号：特許第3575757号
出願日： 2001年10月15日
公開日（公表日）： 2003年04月23日
請求項（抜粋）：
【請求項1】コンベアにより横置き形態で移送される先端側に狭断面部を有するプラスチックアンプルの後端部側を把持し、前記プラスチックアンプルの先端側から後端部方向へ水平後退させつつ、前記プラスチックアンプルの先端側を下方に回転させることにより前記プラスチックアンプルの先端狭断面部へ遠心力を利用して導電性の液体を液入れし、当該液入れ狭断面部に高電圧を印加してピンホール検査をなすことを特徴とするプラスチックアンプル用ピンホール検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/92 A
, G01M 3/40 A
