特許
J-GLOBAL ID：201103054155093940
品質評価装置および品質評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
八田 幹雄
, 野上 敦
, 奈良 泰男
, 齋藤 悦子
, 宇谷 勝幸
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-139020
公開番号（公開出願番号）：特開2002-333317
特許番号：特許第3823758号
出願日： 2001年05月09日
公開日（公表日）： 2002年11月22日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 品質評価基準となる基準立体形状と、生産された製品を計測して得られた計測立体形状とを比較することで、製品の品質を向上させるための品質評価装置であって、前記基準立体形状のデータを記憶した基準データ記憶手段と、前記計測立体形状のデータを作成する計測データ作成手段と、前記計測立体形状と前記基準立体形状とを重ね合わせる重ね合わせ手段と、を有し、
前記重ね合わせ手段は、
予め決められた三次元座標上に配置された前記基準立体形状上に、重ね合わせの基準となる少なくとも三つの基準点を定義する基準点定義手段と、
前記三次元座標上に配置された前記計測立体形状上に、前記少なくとも三つの基準点に対応対象点を定義する対象点定義手段と、を有し、
少なくとも一つの対象点を対応する基準点と同じX座標値を有するようにし、残りの少なくとも一つの対象点を対応する基準点と同じY座標値を有するようにし、さらに残りの少なくとも一つの対象点を対応する基準点と同じZ座標値を有するようにして、少なくとも三つの対象点が有するXYZ座標値のうち六つの座標値を対応する基準点のXYZ座標値と同一にすることを特徴とする品質評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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