特許

J-GLOBAL ID：201103054392378177

レンズ枠形状測定装置

発明者： 鈴木 泰雄 ,  小川 義正 ,  秀島 昌行
出願人/特許権者： 株式会社トプコン
代理人 (2件)： 西脇 民雄 ,  西村 公芳
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-317054
公開番号（公開出願番号）：特開2002-122829
特許番号：特許第4531237号
出願日： 2000年10月17日
公開日（公表日）： 2002年04月26日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 眼鏡フレームの左右のレンズ枠を保持する一対の眼鏡枠保持機構と、 前記一対の眼鏡枠保持機構の配列方向に移動可能に設けられたスライドベースと、 前記スライドベースを移動方向に駆動するベース水平方向移動モータと、 前記スライドベース上に水平回転可能に装着された回転ベースと、 前記回転ベースを水平回転駆動するベース回転モータと、 前記回転ベース上に水平方向に進退移動可能に取り付けられ且つ移動方向の一方向にバネ付勢されたスライダと、 前記スライダに上下駆動可能に設けられ且つ前記接触子支持軸を上下動可能に保持して前記スライダに前記接触子支持軸を上下動自在に支持する昇降部材と、 下端部に保持部を有すると共に前記昇降部材に上下動自在に支持された接触子支持軸と、 自由端部が上方にバネ付勢されていると共にモータで上下駆動可能に設けられ且つ前記接触子支持軸の保持部を前記バネ付勢力により前記スライダの下支持部に押し付けるアームと、 前記接触子支持軸の上端に設けられた接触子と、 前記スライダの前記回転ベースに対する水平方向への移動量を測定する動径測定手段と、 前記接触子を前記レンズ枠の保持位置よりも下方の位置から前記ヤゲン溝に対応する位置まで昇降駆動させる接触子鉛直方向移動手段と、 前記ベース回転モータを作動制御して前記スライダを前記回転ベースと共に水平回転駆動させることにより、前記接触子を前記ヤゲン溝に沿って接触移動させて、前記回転ベースの回転角θiに対する前記接触子の前記水平方向の移動量を動径ρiとして前記動径測定手段からの検出信号により求める演算制御回路と、を備えるレンズ枠形状測定装置において、 前記昇降部材の昇降に連動して移動するピン部材と駆動手段により駆動されるストッパを有すると共に、前記接触子鉛直方向移動手段は前記昇降部材を上下動させて前記接触子を昇降させる接触子昇降モータを備え、 前記演算制御回路は、ベース水平方向移動モータを作動制御して、前記接触子が前記一方のレンズ枠から他方のレンズ枠に移動する方向に前記回転ベースを移動させる際に、前記接触子昇降モータを作動制御して前記接触子が前記レンズ枠より下方に移動する位置まで前記昇降部材を降下させると共に、前記昇降部材を前記接触子が前記レンズ枠の下方に位置する第1の位置で前記ピンの移動を前記ストッパで停止可能に、前記駆動手段を作動制御して前記ストッパを駆動させる一方、前記レンズ枠の形状を測定する際、前記接触子が前記レンズ枠の前記ヤゲン溝に臨む第2の位置で前記ピンの移動を前記ストッパで停止可能に、前記駆動手段を作動制御して前記ストッパを駆動させることを特徴とするレンズ枠形状測定装置。

IPC (3件)：

G02C 13/00 ( 200 6.01) ,  G01B 21/20 ( 200 6.01) ,  B24B 9/14 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G02C 13/00 ,  G01B 21/20 C ,  B24B 9/14 D

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平3-020605
  
• 低測定圧プロ-ブ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-004028   出願人：株式会社ニコン