特許
J-GLOBAL ID：201103054479232845
ディレイ故障検査方式
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大菅 義之 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平1-109787
公開番号（公開出願番号）：特開平2-287271
特許番号：特許第3090929号
出願日： 1989年04月28日
公開日（公表日）： 1990年11月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】論理回路内のレジスタ出力から次のレジスタ入力に至る組み合わせ回路の特定な検査パスを活性化するような入力パターンIを求める入力パターンI生成手段と、前記論理回路内の前記レジスタにクロックを1発打つことにより前記入力パターンIが前記組み合わせ回路の入力部にあたる前記レジスタにセットされるような入力パターンIIを求める入力パターンII生成手段と、前記入力パターンIIを前記論理回路にスキャンインした後、クロックを前記論理回路の動作仕様周波数で2発打ち、最初のクロックで前記入力パターンIを前記レジスタにセットし、前記入力パターンIを前記組み合わせ回路へ入力させることによって前記論理回路の検査パスを形成し、さらに前記検査パスの論理状態の変化を前記組み合わせ回路から出力させ、その出力結果を前記レジスタにその2発目のクロックでセットした後、その結果をスキャンアウトして期待値と比較するテスト手段を有し、該比較結果に基づいて、前記論理回路の検査パス上に存在するディレイ故障を検査することを特徴とするディレイ故障検査方式。
IPC (4件)：
G01R 31/28
, G01R 31/3183
, G06F 11/22 360
, G06F 11/25
G01R 31/28 G
, G06F 11/22 360 P
, G01R 31/28 Q
, G06F 11/26 310
