特許

J-GLOBAL ID：201103054506616243

低精度の部品により構成した測定回路を用いた高精度測定方法

発明者： 宮崎 誠一
出願人/特許権者： 有限会社宮崎技術研究所
代理人 (1件)： 山本 恵一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-206152
公開番号（公開出願番号）：特開2001-033272
特許番号：特許第3409744号
出願日： 1999年07月21日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 被測定対象の信号回路の出力と、制御部の出力を入力とするD/A変換器出力とを加算器で加算し、該加算器出力を増幅回路およびA/D変換器を経て前記制御部に入力する測定回路を用いた高精度測定方法において、入力サイクルに、予備操作、および1回または複数回の入力操作を含み、予備操作では、使用部品の誤差に起因して増幅器の出力がスケールオーバーすべき条件であっても、前記D/A変換器の出力を調整することによって、前記増幅器の出力範囲が前記A/D変換器の入力範囲に収まるようにし、入力操作では、前記信号回路から入力データを入力して利用することによって、信号レベルが微弱な回路、または高精度を必要とする回路において、絶対値精度が低い部品の使用を可能ならしめることを特徴とする高精度測定方法。

IPC (2件)：

G01D 3/024 ,  G01D 3/028

FI (2件)：

G01D 3/02 R ,  G01D 3/04 D

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 歪み測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-269800   出願人：横河電機株式会社