特許
J-GLOBAL ID：201103054671200086
基板の導通検査装置及びその導通検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小谷 悦司 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-011165
特許番号：特許第2995716号
出願日： 1999年01月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 基板の一方面から他方面に貫通する貫通部を介して一方面のプリント配線と他方面のプリント配線とが導通するように形成された基板の導通検査装置において、経時的にレベルが変化する電気信号を上記一方面のプリント配線上の第1領域に印加する第1信号印加手段と、上記他方面のプリント配線上の第2領域に対向配置された第1平面電極と、上記他方面のプリント配線における上記第2領域と上記貫通部との間の部分に対向配置された第2平面電極と、上記第1信号印加手段による電気信号に対してレベル変化が逆位相の電気信号を上記第2平面電極に同時に印加する第2信号印加手段と、上記各電気信号の印加時に上記第1平面電極に生じる電気信号に基づいて上記第1領域と上記第2領域との間の導通状態の良否を判定する導通判定手段とを備えたことを特徴とする基板の導通検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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