特許
J-GLOBAL ID：201103055790947617
集積回路解析方法、装置及びプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
外川 英明
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-385472
公開番号（公開出願番号）：特開2002-270696
特許番号：特許第3647803号
出願日： 2001年12月19日
公開日（公表日）： 2002年09月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 集積回路の回路情報から該集積回路を解析する集積回路解析方法において、 前記集積回路中の各基板ノードにノード名を付与して該基板ノードに少なくとも電源を接続した回路情報を再合成する再合成ステップと、 前記再合成された回路情報に従った集積回路に対して所定の動作点を設定した状態で前記各基板ノードから予め定められた出力ノードへの伝達関数を求めて該集積回路を解析する解析ステップと、 前記伝達関数に基づき前記各基板ノード毎に該基板ノードに混入するノイズが前記集積回路の回路特性に与える影響を判定する判定ステップと、 前記解析の結果及び前記判定の結果を表示する表示ステップとを有することを特徴とする集積回路解析方法。
IPC (3件)：
H01L 21/82
, G01R 31/28
, G06F 17/50
H01L 21/82 T
, G06F 17/50 666 V
, G01R 31/28 F
, H01L 21/82 C
