特許

J-GLOBAL ID：201103056238389436

異常診断装置及び異常診断方法

発明者： 関合 孝朗 ,  江口 徹 ,  岡崎 輝幸 ,  清水 悟 ,  深井 雅之
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (2件)： 井上 学 ,  戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-219901
公開番号（公開出願番号）：特開2011-070334
出願日： 2009年09月25日
公開日（公表日）： 2011年04月07日
要約：

【課題】クラスタリング技術を用いた異常診断装置において、分解能パラメータを適切に調整し、高精度に異常を検出可能な異常診断装置を提供することにある。【解決手段】基準信号決定手段は、プラントの正常時の計測信号を2つ以上のデータ群に分割する機能を持ち、前記分類手段はデータ群の1つを用いてカテゴリーに分類する学習部と、学習部で使用しない残りのデータ群の1つを用いてカテゴリーに分類するテスト部と、前記学習部、及び前記テスト部の分類結果を用いて、カテゴリーに分類する際に用いる分解能パラメータを調整する分解能パラメータ調整部を備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

プラントの計測信号を記憶した計測信号データベースと、 プラントの正常時の前記計測信号を2つ以上のデータ群に分割して、基準信号を作成する基準信号決定手段と、 前記データ群の1つを用いてカテゴリーに分類する学習部と、前記学習部で使用しない残りの前記データ群の1つを用いてカテゴリーに分類するテスト部と、前記学習部、及び前記テスト部の分類結果を用いて、カテゴリーに分類する際に用いる分解能パラメータを調整する分解能パラメータ調整部とを備え、データの類似性に応じて、前記基準信号をカテゴリーに分類する分類手段と、 前記正常時の計測信号とは異なる診断対象の計測信号について、前記分類手段で発生したカテゴリーに属さない数量が一定値を超えた場合に異常と診断する診断手段とを備えた異常診断装置。

IPC (1件)：

G05B 23/02

FI (2件)：

G05B23/02 302S ,  G05B23/02 301W

Fターム (4件)：

5H223AA01 ,  5H223BB01 ,  5H223DD03 ,  5H223EE06