特許
J-GLOBAL ID：201103056338504046

ピンホール検査機

発明者：
金澤 正夫

金澤 正夫 について

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頂 友次

頂 友次 について

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和佐 葉月

和佐 葉月 について


出願人/特許権者：
日新電子工業株式会社

日新電子工業株式会社 について


代理人 (1件)： 山田 英穂
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-341141
公開番号（公開出願番号）：特開2002-116111
特許番号：特許第4416307号
出願日： 2000年10月04日
公開日（公表日）： 2002年04月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 内部に一部絶縁性気体を含んで導電性溶液を略瓶形状を成す絶縁性樹脂容器に封入して成る被検体の外表面の異なる複数箇所に異極性の高電圧を印加してその漏洩電流を調べることにより前記被検体に生じたピンホール等のシール不良を検査するようにしたピンホール検査機において、前記被検体の底部と前記溶液の流出口となる入口部とにそれぞれ接触または近接して配置された異極性の複数電極と、前記被検体を水平方向に対して所定角度傾斜させて内部に封入された前記気体を前記被検体の肩部位置へ移動させて前記被検体容器の底部と前記入口部との内面が前記溶液と完全に接液状態とさせる傾倒手段と、前記複数電極間に異極性の高電圧を印加する電源と、該各電極間を流れる漏洩電流の値を調べて前記被検体容器の底部と前記入口部とに生じたシール不良を一度の検査で検出するピンホール検出手段とを具えたことを特徴とするピンホール検査機。
IPC (2件)：
G01M 3/40 ( 200 6.01) ,  G01N 27/20 ( 200 6.01)
FI (3件)：
G01M 3/40 A ,  G01N 27/20 A ,  G01N 27/20 B
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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