特許
J-GLOBAL ID：201103057041239641
陽電子消滅γ線測定方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
佐藤 一雄
, 永井 浩之
, 岡田 淳平
, 武林 茂
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-072271
公開番号（公開出願番号）：特開2001-264272
特許番号：特許第4037590号
出願日： 2000年03月15日
公開日（公表日）： 2001年09月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】両面から陽電子を放出する薄膜状の陽電子源と、
前記陽電子源から一定の距離を隔てて配置され、陽電子を遮蔽し陽電子消滅γ線を透過させる陽電子遮蔽板と、
前記陽電子遮蔽板により前記陽電子源側の開口が塞がれたγ線コリメータと、
前記γ線コリメータを通過したγ線を検出するように配置されたγ線検出器と、
を具備するすることを特徴とする陽電子消滅γ線測定装置。
IPC (4件)：
G01N 23/22 ( 200 6.01)
, G01T 7/00 ( 200 6.01)
, G21K 1/10 ( 200 6.01)
, G21K 5/02 ( 200 6.01)
G01N 23/22
, G01T 7/00 A
, G01T 7/00 C
, G21K 1/10 A
, G21K 5/02 R
