特許
J-GLOBAL ID：201103058862366109
余寿命診断方法、余寿命診断装置及びプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
磯野 道造
, 多田 悦夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-152069
公開番号（公開出願番号）：特開2011-007662
出願日： 2009年06月26日
公開日（公表日）： 2011年01月13日
要約：
【課題】非破壊で受変電設備の制御配線の余寿命および環境性を数値化して簡易に余寿命の診断を可能にすること。【解決手段】検査用の光を照射された配線からの反射光を、プローブ1及び分光器2を介して計測データとして取得する光計測制御部6と、この計測データに基づいて検査用の反射率差を算出する反射率差算出部11と、前記配線と同一品又は同等品の所定経年時における反射率差と、前記配線の検査時の経年数と、前記算出した反射率差とを用いて、特性値の経年変化の予測式を設定し、設定した予測式から求まる将来の特性値の予測値が、この配線に対して設定された寿命閾値としての特性値と同じとなる時期をこの配線の寿命とし、この寿命と現在経年数との差からこの配線の余寿命を算出する余寿命診断部13とを備えること。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
受変電設備に関連した検査対象物の余寿命を診断する余寿命診断装置に用いる余寿命診断方法であって、
前記余寿命診断装置は、
検査用の光を照射された前記検査対象物からの反射光を、センサを介して計測データとして取得するステップと、
前記取得した計測データに基づいて検査用の特性値を算出するステップと、
前記検査対象物と同一品又は同等品の所定経年時における特性値と、前記検査対象物の検査時の経年数である現在経年数と、前記算出した特性値とを用いて、特性値の経年変化の予測式を設定するステップと、
前記設定した予測式から求まる将来の特性値の予測値が、当該検査対象物に対して設定された寿命閾値としての特性値と同じとなる時期を当該検査対象物の寿命とし、前記寿命と前記現在経年数との差から前記検査対象物の余寿命を算出するステップと
を備えることを特徴とする余寿命診断方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M19/00 Z
, G01N21/27 B
2G024AD21
, 2G024BA12
, 2G024CA21
, 2G024DA22
, 2G024FA06
, 2G059AA05
, 2G059BB08
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059FF08
, 2G059HH02
, 2G059JJ01
, 2G059JJ17
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G059MM05
, 2G059MM10
, 2G059MM12
, 2G059NN01
