特許
J-GLOBAL ID：201103059074532240
顕熱流解析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
森 哲也
, 内藤 嘉昭
, 崔 秀▲てつ▼
, 根本 宏
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-004212
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206268
特許番号：特許第4152512号
出願日： 1999年01月11日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】解析対象期間内に複数の解析時点を設定するとともに、建物の外壁面をn個の微小要素に分割し、前記各解析時点におけるi(1≦i≦n)番目の微小要素の放射束Bi を算出し、算出した各放射束Bi に基づいて、前記建物の外壁面で生じる顕熱流の解析を行う方法であって、
太陽の軌跡及び一日当たりの太陽からの全天日射熱量Ea を少なくとも前記解析対象期間にわたって記録した標準気象データをあらかじめ記憶手段に格納しておく格納ステップと、
前記記憶手段の標準気象データを参照して、天空を仮想的に複数の領域に分割したときのそれら領域のうち前記各解析時点において太陽が位置する領域を選定するに際して、重複領域が存在するときはその重複分を除いた選定を行う選定ステップと、
選定した領域に太陽が位置すると想定して、前記全天日射熱量Ea により正規化された前記放射束Bi である正規化放射束Bi /Ea を、前記i番目の微小要素の放射能、反射率及び形態係数をそれぞれEi 、ρi 及びFi として下式により算出し、算出した正規化放射束Bi /Ea を前記記憶手段に格納する算出ステップと、
前記各解析時点に対応させて前記正規化放射束Bi /Ea を前記記憶手段から読み出す読出ステップと、
前記記憶手段の標準気象データを参照して、前記各解析時点に対応する正規化放射束Bi /Ea に、当該解析時点の属する日における全天日射熱量Ea を乗じて、前記各解析時点における放射束Bi を算出する算出ステップと、を含むことを特徴とする顕熱流解析方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用文献：
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