特許

J-GLOBAL ID：201103059820201718

回路基板の検査用治具、検査方法、および製造方法

発明者： 山崎 勇 ,  増田 正登 ,  伊部 時康 ,  永井 一史
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (4件)： 高橋 詔男 ,  志賀 正武 ,  青山 正和 ,  村山 靖彦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-101704
公開番号（公開出願番号）：特開2002-296327
特許番号：特許第3610919号
出願日： 2001年03月30日
公開日（公表日）： 2002年10月09日
請求項（抜粋）：

【請求項1】回路に接続された基板側コネクタが表面に設けられた回路基板と、該回路基板がセットされると所定の方向へ動作して前記回路基板に電気的に接続される検査装置との間に介在する検査用治具において、前記検査装置の固定側に搭載され、前記基板側コネクタの挿抜方向を前記動作方向に一致させて支持する第1の検査用治具と、前記基板側コネクタに対して挿抜可能な治具側コネクタと、この治具側コネクタを支持する本体とから構成された第2の検査用治具とから構成されてなり、該第2の検査用治具は、前記治具側コネクタをその挿抜方向を前記検査装置の動作方向と一致する方向へ向けて、かつ、前記動作方向と交差する平面内で移動可能に支持し、 前記治具側コネクタの先端には、前記動作方向に対して傾斜した面が設けられたことを特徴とする検査用治具。

IPC (4件)：

G01R 31/28 ,  G01R 1/06 ,  G01R 31/02 ,  H05K 13/08

FI (5件)：

G01R 31/28 K ,  G01R 1/06 E ,  G01R 31/02 ,  H05K 13/08 D ,  G01R 31/28 J

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 部品実装基板の検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-220710   出願人：ウィルテック株式会社
• 微小ピッチコネクタの検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-279307   出願人：日本航空電子工業株式会社
• 半導体テスタ装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-117746   出願人：横河電機株式会社
• ICソケット
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-205290   出願人：富士通株式会社