特許
J-GLOBAL ID：201103060373940506

木材欠陥検出装置およびその方法

発明者：
本田 達也

本田 達也 について

, 
三高 良介

三高 良介 について

, 
杭ノ瀬 正治

杭ノ瀬 正治 について


出願人/特許権者：
パナソニック電工株式会社

パナソニック電工株式会社 について


代理人 (1件)： 西川 惠清
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-249446
公開番号（公開出願番号）：特開2011-095108
出願日： 2009年10月29日
公開日（公表日）： 2011年05月12日
要約：
【課題】周囲との濃淡度が小さい木材を検査対象としながらもカラー画像を用いることなく欠陥の詳細な情報を得ることを可能にする。【解決手段】モノクロのラインセンサカメラにより木材の表面を撮像した濃淡画像が画像処理装置4に入力される。濃淡画像は二値化手段11により二値化され、欠陥候補抽出手段12により二値画像から欠陥候補領域が抽出される。分割手段14は、欠陥候補領域を含む所定領域を分割して微小エレメントを生成し、再二値化手段16では、微小エレメントごとに設定されるしきい値を用いて微小エレメントごとに輝度を二値化する。再二値化手段16により生成された二値画像からは欠陥候補再抽出手段17により欠陥候補領域が再抽出され、欠陥判定手段18は、再抽出された欠陥候補領域の輝度と周囲の輝度との輝度差を用いて欠陥候補領域について欠陥を判定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
検査対象である木材の表面を撮像手段により撮像した画像の輝度を二値化することにより二値画像を生成する二値化手段と、二値化手段により生成された二値画像から欠陥候補領域を抽出する欠陥候補抽出手段と、欠陥候補領域を含む所定領域を分割して微小エレメントを生成する分割手段と、微小エレメントごとに設定されるしきい値を用いて微小エレメントごとに輝度を二値化することにより二値画像を生成する再二値化手段と、再二値化手段により生成された二値画像から欠陥候補領域を再抽出する欠陥候補再抽出手段と、欠陥候補再抽出手段により再抽出した欠陥候補領域の輝度と周囲の輝度との輝度差を用いて欠陥候補領域について欠陥を判定する欠陥判定手段とを備えることを特徴とする木材欠陥検出装置。
IPC (1件)：
G01N 21/89
FI (1件)：
G01N21/89 Z
Fターム (17件)：
2G051AA44 ,  2G051AB02 ,  2G051AB03 ,  2G051AB07 ,  2G051BB05 ,  2G051CA03 ,  2G051CA07 ,  2G051CB05 ,  2G051DA06 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051EC03 ,  2G051ED09
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM