特許
J-GLOBAL ID：201103061106971237
分析装置制御システム及び該システム用プログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-002630
公開番号（公開出願番号）：特開2011-141220
出願日： 2010年01月08日
公開日（公表日）： 2011年07月21日
要約：
【課題】参照用クロマトグラムを基準として一又は複数の測定イベントを実行するような、クロマトグラフと接続された分析装置において、複数のイベントが重なって同時に実行される場合に、ループタイムが長くなりすぎてしまい、測定が適切に行えない場合があった。【解決手段】測定を実行する一又は複数の時間範囲をそれぞれ範囲バーとして表示する時間範囲表示部と、時間範囲に関して、単測定に要する時間であるループタイムを算出し、該算出結果を表示するループタイム表示部と、を備えたシステムとする。これにより、測定の調整を行う必要があるか否かをユーザが直観的に知ることができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象試料をクロマトグラフによって時間的に分離しつつ、全測定時間内の一又は複数の部分時間範囲のそれぞれにおいて単測定の繰り返しから成る所定の測定を実行するように分析装置を制御するためのシステムであって、
a)測定を実行する一又は複数の時間範囲をそれぞれ範囲バーとして表示する時間範囲表示部と、
b)前記各部分時間範囲においてループタイム(単測定に要する時間)を算出し、該算出結果を表示するループタイム表示部と、
を備えることを特徴とする分析装置制御システム。
IPC (1件)：
FI (4件)：
G01N30/86 R
, G01N30/86 D
, G01N30/86 G
, G01N30/86 V
