特許
J-GLOBAL ID:201103061757727334
計測装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
岡田 和秀
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-185630
公開番号(公開出願番号):特開2001-012937
特許番号:特許第3705019号
出願日: 1999年06月30日
公開日(公表日): 2001年01月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】 予め入力されるセンサの特性値および該センサから基準面までの距離に基いて、前記基準面に存在する計測対象物の長さを、前記センサの出力から算出する計測装置であって、 前記特性値は、前記センサの検出距離と対応する出力値とからなる組の二組の値であり、 これら二組の値に基づいて、前記センサの出力から計測対象物までの距離を算出するとともに、算出した計測対象物までの距離を、前記センサから基準面までの距離から減算して計測対象物の高さを算出する算出手段を備えることを特徴とする計測装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01B 21/00 G
, G01B 21/02 A
引用特許:
出願人引用 (2件)
-
特開平4-242877
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距離検出用半導体位置検出素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-116770
出願人:オリンパス光学工業株式会社
審査官引用 (2件)
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特開平4-242877
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距離検出用半導体位置検出素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-116770
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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