特許

J-GLOBAL ID：201103062148747872

塩素濃度測定装置

発明者： 市枝 信之 ,  田中 哲夫 ,  溝畑 保▲廣▼
出願人/特許権者： 大日本スクリーン製造株式会社
代理人 (2件)： 稲岡 耕作 ,  川崎 実夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-080144
公開番号（公開出願番号）：特開2001-264290
特許番号：特許第3792981号
出願日： 2000年03月22日
公開日（公表日）： 2001年09月26日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 メッキ液中に含まれている塩素の濃度を測定する塩素濃度測定装置において、 メッキ液を収容する収容器と、 前記収容器内に配置される対極と、 前記収容器内に配置される作用電極と、 前記収容器内に配置される基準電極と、 前記基準電極に対する前記作用電極の電位が所定の電位になるように、前記作用電極と前記対極との間に電流を流す電源と、 前記作用電極と前記対極との間に流れた電流値に基づいて、メッキ液の塩素濃度を求める制御手段と、 を備え、 前記制御手段は、前記基準電極に対する前記作用電極の電圧を掃引すべく前記電源を制御する手段と、前記電圧の掃引時に前記作用電極と前記対極との間に流れる電流値を記録する記録手段と、塩素濃度が異なる複数の較正用メッキ液について前記記録手段によって記録される電流値と塩素濃度との相関を記録する相関記録手段と、この相関記録手段によって記録された相関に基づいて作成される較正曲線を記憶する手段と、塩素濃度が未知のメッキ液について前記記録手段によって記録される電流値および前記較正曲線に基づいて当該メッキ液の塩素濃度を求める手段とを含む ことを特徴とする塩素濃度測定装置。

IPC (3件)：

G01N 27/416 ( 200 6.01) ,  C25D 21/12 ( 200 6.01) ,  G01N 27/26 ( 200 6.01)

FI (4件)：

G01N 27/46 316 Z ,  C25D 21/12 D ,  G01N 27/26 381 B ,  G01N 27/26 381 D

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 遊離塩素測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-142492   出願人：電気化学計器株式会社
• 特開平2-296143
  
• 特開昭63-026570
  

審査官引用 (5件)

• 遊離塩素測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-142492   出願人：電気化学計器株式会社
• 特開平2-296143
  
• 特開平2-296143
  
• 特開昭63-026570
  
• 特開昭63-026570