特許
J-GLOBAL ID:201103062366255469

異物粒子分離装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (19件): 前田 弘 ,  竹内 宏 ,  嶋田 高久 ,  竹内 祐二 ,  今江 克実 ,  二宮 克也 ,  原田 智雄 ,  井関 勝守 ,  関 啓 ,  杉浦 靖也 ,  河部 大輔 ,  長谷川 雅典 ,  岩下 嗣也 ,  福本 康二 ,  前田 亮 ,  間脇 八蔵 ,  松永 裕吉 ,  川北 憲司 ,  岡澤 祥平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-105600
公開番号(公開出願番号):特開2011-230101
出願日: 2010年04月30日
公開日(公表日): 2011年11月17日
要約:
【課題】 微小な磁性粒子や、被処理流体との比重の差が小さい磁性粒子などの除去効率を向上させる。【解決手段】 切削屑等の磁性粒子jを含むクーラント液は、導入口3からサイクロン式分離除去装置1に導入される。比重がかなり小さい粒子、油成分、浮遊カーボン等は浮上物排出口21からダスト分離用タンク103へと排出された後、比重が比較的大きい磁性粒子jが遠心力により分離されて、第1排出口31からダスト分離用タンク103へと排出され、続いて、比重が比較的小さい磁性粒子jがさらに遠心力により分離されて、第2排出口4からダスト分離用タンク103へと排出される。浮上物および磁性粒子jが分離された後の被処理流体は、筒状排出管6から排出されて、スーパクリーンタンクへと導かれる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
異物粒子を含む被処理流体を内周面に沿って旋回下降流動させ、その旋回下降流動によって生じる遠心力により被処理流体内の異物粒子を分離して下方に排出するサイクロン式処理容器と、 上記サイクロン式処理容器の中心部にて上下方向に延び、下端に該サイクロン式処理容器の内部に開口する開口部を有し、浄化後の被処理流体を該サイクロン式処理容器の上方から該容器外へと導く排出管と、 を備えた異物粒子分離装置であって、 上記サイクロン式処理容器の内周面における、上記サイクロン式処理容器に被処理流体が導入される導入口と、上記排出管の開口部との上下位置の間の部分に、上記遠心力によって上記内周面近傍に移動した異物粒子をサイクロン式処理容器外に排出するための排出口が設けられていることを特徴とする異物粒子分離装置。
IPC (6件):
B03B 5/28 ,  B04C 3/06 ,  B04C 5/04 ,  B04C 5/081 ,  B04C 5/12 ,  B23Q 11/00
FI (6件):
B03B5/28 B ,  B04C3/06 ,  B04C5/04 ,  B04C5/081 ,  B04C5/12 Z ,  B23Q11/00 U
Fターム (21件):
3C011BB32 ,  3C011BB34 ,  4D053AA03 ,  4D053AB04 ,  4D053BA01 ,  4D053BB02 ,  4D053BB04 ,  4D053BC01 ,  4D053BD01 ,  4D053BD04 ,  4D053CB04 ,  4D053CB14 ,  4D053CC01 ,  4D053CC02 ,  4D053CD01 ,  4D053CD12 ,  4D053CD13 ,  4D053DA10 ,  4D071AA53 ,  4D071AB62 ,  4D071DA20

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