特許
J-GLOBAL ID：201103062483214684

画像処理装置及び画像処理方法

発明者：
戴 暁艶

戴 暁艶 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-001564
公開番号（公開出願番号）：特開2011-142469
出願日： 2010年01月06日
公開日（公表日）： 2011年07月21日
要約：
【課題】文字、網点、下地などの属性情報に応じて画素毎に画像処理を施す。【解決手段】画像データから抽出した所定数の画素から構成される画素ブロックについて、エッジ強度の最大値及び最小値と、予め設定した固定閾値とに基づいて、正規化用閾値を求めてエッジ特徴を抽出することにより、該ブロックの属性と、その画素ブロックの各画素が属する領域とを判定する。そして、判定された画素ブロックの属性と各画素が属する領域の属性とに基づき、画像データを画素毎に画像処理する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
画像データを所定数の画素で構成される複数のブロックに分割する分割手段と、 前記分割された各ブロックにおいて、当該各ブロックに含まれる各画素のエッジ強度を求めるエッジ抽出手段と、 前記各ブロックにおいて、前記エッジ抽出手段で求めたエッジ強度の最大値及び最小値と、予め設定した固定閾値とに基づいて、正規化用閾値を求め、更に、前記固定閾値より高いエッジ強度を有する第1の画素数と前記正規化用閾値より高いエッジ強度を有する第2の画素数とを求めるエッジ特徴抽出手段と、 前記各ブロックにおいて求めた前記正規化用閾値の値と前記第1の画素数と前記第2の画素数とに基づいて、前記各ブロックの属性を判定するブロック属性判定手段と、 を有することを特徴とする画像処理装置。
IPC (1件)：
H04N 1/40
FI (1件)：
H04N1/40 F
Fターム (13件)：
5C077LL19 ,  5C077MP01 ,  5C077MP02 ,  5C077NN02 ,  5C077PP02 ,  5C077PP21 ,  5C077PP25 ,  5C077PP27 ,  5C077PP28 ,  5C077PQ08 ,  5C077PQ19 ,  5C077TT02 ,  5C077TT06
引用特許：
審査官引用 (4件)
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