特許

J-GLOBAL ID：201103062869430985

イオントラップ質量分析方法

発明者： 加藤 義昭
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (2件)： 高田 幸彦 ,  竹ノ内 勝
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-342836
公開番号（公開出願番号）：特開2001-159622
特許番号：特許第3837264号
出願日： 1999年12月02日
公開日（公表日）： 2001年06月12日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 リング電極およびエンドキャップ電極を備えたイオントラップ質量分析計を用いてダイオキシン類を質量分析する方法において、 イオントラップ動作シーケンス中のイオン化、イオン蓄積の間に、前記エンドキャップ電極にダイオキシンが解裂する電圧より低い0.5V以上1.3V未満の電圧の補助交流を印加し、その後に前記リング電極に印加した主高周波数電圧の掃引を行いマススペクトルを得ることを特徴とするイオントラップ質量分析法。

IPC (2件)：

G01N 27/62 ( 200 6.01) ,  H01J 49/42 ( 200 6.01)

FI (2件)：

G01N 27/62 ZAB V ,  H01J 49/42