特許
J-GLOBAL ID：201103062962316440
通電用クリップを用いた給放電試験装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
古澤 俊明
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-364651
公開番号（公開出願番号）：特開2002-170609
特許番号：特許第4536250号
出願日： 2000年11月30日
公開日（公表日）： 2002年06月14日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 固定ケースと、この固定ケースに上下動自在に設けられ、間に介在したばねで上方に付勢された通電用クリップ支持ケースと、この通電用クリップ支持ケースに載置され、被試験体としての複数個の電子部品を、その電極を下向きに突出してセットする電子部品トレイと、前記通電用クリップ支持ケースに取り付けられ、1対の常開した接触端子間が前記電極を挟むように開閉自在に設けた複数個の通電用クリップと、前記通電用クリップ支持ケースに遊嵌し、前記固定ケースに設けたばねにより上方への押し上げ力を付与されたクサビ体取付け枠と、このクサビ体取付け枠に取り付けられ、前記通電用クリップの1対のクリップ体間に進退して1対の接触端子間の開閉をして電子部品の電極への接離をするためのクサビ体とを具備し、前記電子部品トレイの押下げにより前記ばねに抗して前記通電用クリップ支持ケースと通電用クリップを一体に押し下げ、前記ばねを介してクサビ体取付け枠に取り付けた複数個のクサビ体が対応する複数個の通電用クリップに食い込み1対の接触端子間が閉じ、複数個の電極が同時に挟着されて電気的に接続されるようにしたことを特徴とする通電用クリップを用いた給放電試験装置。
IPC (3件)：
H01R 11/24 ( 200 6.01)
, G01R 1/067 ( 200 6.01)
, G01R 1/073 ( 200 6.01)
H01R 11/24
, G01R 1/067 F
, G01R 1/073 B
