特許

J-GLOBAL ID：201103064663193149

潅注カテーテル使用時の組織温度監視

発明者： メイル・バル-タル ,  アブラハム・バーガー ,  アブリ・ハザン ,  ダニエル・オサドチー
出願人/特許権者： バイオセンス・ウエブスター・(イスラエル)・リミテッド
代理人 (2件)： 加藤 公延 ,  大島 孝文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-051129
公開番号（公開出願番号）：特開2011-183165
出願日： 2011年03月09日
公開日（公表日）： 2011年09月22日
要約：

【課題】プローブによって実施される切除処置中に、体内組織の近位にあるプローブを表わす物理的パラメータをモデル化することを含む方法を提供する。【解決手段】この方法には、切除処置の非切除段階中の物理的パラメータのサブグループを測定することにより、そのサブグループの測定された非切除関連値を生成することと、切除処置の切除段階中の物理的パラメータのサブグループを測定することにより、そのサブグループの測定された切除関連値を生成することと、も含まれる。このモデル化に対応して、この方法には、非切除段階についてサブグループの計算された非切除関連値を生成することと、切除段階についてサブグループの計算された切除関連値を生成することと、が含まれる。この方法は、測定された非切除関連値を計算された非切除関連値と比較し、かつ、測定された切除関連値を計算された切除関連値と比較することにより、物理的パラメータの最適値を生成する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

プローブによって実施される切除処置中に、体内組織の近位にある前記プローブを表わす物理的パラメータをモデル化することと、 前記切除処置の非切除段階中の前記物理的パラメータのサブグループを測定することにより、前記サブグループの測定された非切除関連値を生成することと、 前記切除処置の切除段階中の前記物理的パラメータの前記サブグループを測定することにより、前記サブグループの測定された切除関連値を生成することと、 前記モデル化に対応して: 前記非切除段階について前記サブグループの計算された非切除関連値を生成することと、 前記切除段階について前記サブグループの計算された切除関連値を生成することと、 前記測定された非切除関連値を前記計算された非切除関連値と比較することと、前記測定された切除関連値を前記計算された切除関連値と比較することにより、前記物理的パラメータの最適値を生成することと、を含む、方法。

IPC (1件)：

A61B 18/12

FI (1件)：

A61B17/39 310

Fターム (11件)：

4C160KK03 ,  4C160KK12 ,  4C160KK24 ,  4C160KK30 ,  4C160KK36 ,  4C160KK58 ,  4C160KK63 ,  4C160KK65 ,  4C160KL03 ,  4C160KL07 ,  4C160MM32

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 画像診断装置を用いた治療装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-228744   出願人：株式会社東芝
• 電極装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2000-508298   出願人：カイデジンガー

審査官引用 (2件)

• 画像診断装置を用いた治療装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-228744   出願人：株式会社東芝
• 電極装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2000-508298   出願人：カイデジンガー