特許

J-GLOBAL ID：201103064781192599

試験データ集計システム

発明者： 濱田 孝治
出願人/特許権者： 株式会社エイチ・アンド・ティー ,  濱田 孝治
代理人 (1件)： 森本 直之
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-295909
公開番号（公開出願番号）：特開2001-118016
特許番号：特許第3248527号
出願日： 1999年10月18日
公開日（公表日）： 2001年04月27日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 試験の結果得られた複数の事項に対する数量を集計する試験データ集計システムであって、第1の事項Aに対する数量Pと第2の事項Bに対する数量Qとが存在する場合に、上記第1の事項Aに対する数量Pを、第2の事項Bの数量とみなして集計するみなし集計手段と、上記みなし集計手段によるみなし集計の集計条件を入力する集計条件入力手段とを備え、上記集計条件入力手段で入力された集計条件に基づいてみなし集計手段によるみなし集計を行なうようになっていることを特徴とする試験データ集計システム。

IPC (4件)：

G06F 17/60 126 ,  G01N 33/15 ,  G01N 33/48 ,  G06F 17/30 220

FI (4件)：

G06F 17/60 126 Z ,  G01N 33/15 Z ,  G01N 33/48 Z ,  G06F 17/30 220 Z