特許

J-GLOBAL ID：201103065814177783

摩耗試験装置及び摩耗試験方法

発明者： 小寺 澄雄 ,  中尾 英人 ,  山本 浩之 ,  高山 智生 ,  佐藤 勝紀 ,  服部 直隆
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (4件)： 高橋 省吾 ,  稲葉 忠彦 ,  村上 加奈子 ,  中鶴 一隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-102219
公開番号（公開出願番号）：特開2011-232156
出願日： 2010年04月27日
公開日（公表日）： 2011年11月17日
要約：

【課題】 試験片の材質、表面状態、または試験条件等に影響されず、点接触状態において、常に安定した回転数及び接触位置で摩耗試験を行い、再現性の高い耐摩耗性を評価する装置及び試験方法を提供する。【解決手段】 モータにより回転駆動される第1の回転軸と、前記第1の回転軸と協働して球形部材を着脱可能に挟持する第2の回転軸と、試験片を保持する試験片ホルダと、前記試験片ホルダを前記球形部材に向けて付勢することにより、前記試験片を前記球形部材に対して押圧する試験片ホルダ付勢部と、前記モータを設定された試験時間に応じて駆動する時間制御手段とを備え、前記第1の回転軸と前記第2の回転軸は前記試験片が前記球形部材を押圧する荷重よりも大きな荷重にて前記球形部材を挟持して該球形部材を回転させて前記試験片の表面を摩耗させる。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

モータにより回転駆動される第1の回転軸と、 前記第1の回転軸と協働して球形部材を着脱可能に挟持する第2の回転軸と、 試験片を保持する試験片ホルダと、 前記試験片ホルダを前記球形部材に向けて付勢することにより、前記試験片を前記球形部材に対して押圧する試験片ホルダ付勢部と、 前記モータを設定された試験時間に応じて駆動する時間制御手段とを備え、 前記第1の回転軸と前記第2の回転軸は前記試験片が前記球形部材を押圧する荷重よりも大きな荷重にて前記球形部材を挟持して該球形部材を回転させて前記試験片の表面を摩耗させることを特徴とする摩耗試験装置。

IPC (1件)：

G01N 3/56

FI (1件)：

G01N3/56 K