特許
J-GLOBAL ID：201103066466847385
硬さ試験機における試料表面検出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
喜多 俊文
, 江口 裕之
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-022665
公開番号（公開出願番号）：特開2002-228568
特許番号：特許第4356246号
出願日： 2001年01月31日
公開日（公表日）： 2002年08月14日
請求項（抜粋）：
【請求項1】試料表面に圧子を押し込んで、その押し込み量とその時に圧子にかかる力とから試料表面の硬さを測定する硬さ試験機において、圧子が試料表面に接触したことを検出する試料表面検出方法において、原点位置から試料に近づけるよう所定距離内で圧子を駆動しつつ圧子が試料表面に接触したかどうかを検出する工程と、前記所定距離内で圧子が試料表面と接触しなかったときは前記圧子を前記原点位置に復帰し、試料を前記所定距離だけ圧子に近づけるよう駆動する工程と、前記所定距離内で圧子が試料表面と接触したときはその接触位置までの圧子の駆動距離を記憶する工程と、前記圧子を前記原点位置に復帰するとともに前記圧子の駆動距離よりわずかに短い距離だけ試料を圧子に近づけるよう駆動する工程を含むことを特徴とする硬さ試験機における試料表面検出方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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