特許

J-GLOBAL ID：201103066915480653

電子機器、異常判定プログラム及び異常判定方法

発明者： 波田野 隆洋
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 赤澤 日出夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-078011
公開番号（公開出願番号）：特開2011-209146
出願日： 2010年03月30日
公開日（公表日）： 2011年10月20日
要約：

【課題】 複数の温度センサ内の温度センサの異常の有無を判定することができる電子機器、異常判定プログラム及び異常判定方法を提供する。【解決手段】 電子機器は、筐体内で互いに異なる位置に配置された3つ以上の温度センサと、第1のタイミングで前記3つ以上の温度センサから第1測定温度を取得し、この第1のタイミングと異なった第2のタイミングで前記3つ以上の温度センサから第2測定温度を取得する取得部と、前記第1測定温度と前記第2測定温度とを比較し、この比較の結果を用いて前記3つ以上の温度センサ間の測定温度の偏りを導き出して、前記3つ以上の温度センサに含まれる温度センサの異常の有無を判定する判定部とを含む。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

筐体内で互いに異なる位置に配置された3つ以上の温度センサと、 第1のタイミングで前記3つ以上の温度センサから第1測定温度を取得し、この第1のタイミングと異なった第2のタイミングで前記3つ以上の温度センサから第2測定温度を取得する取得部と、 前記第1測定温度と前記第2測定温度とを比較し、この比較の結果を用いて前記3つ以上の温度センサ間の測定温度の偏りを導き出して、前記3つ以上の温度センサに含まれる温度センサの異常の有無を判定する判定部と を備える電子機器。

IPC (2件)：

G01K 7/00 ,  H05K 7/20

FI (2件)：

G01K7/00 321J ,  H05K7/20 J

Fターム (6件)：

5E322AA11 ,  5E322AB10 ,  5E322BB05 ,  5E322BB06 ,  5E322BB10 ,  5E322DC01