特許
J-GLOBAL ID:201103066994997020

半導体装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井桁 貞一 (外2名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平1-214321
公開番号(公開出願番号):特開平3-077316
特許番号:特許第2946543号
出願日: 1989年08月21日
公開日(公表日): 1991年04月02日
請求項(抜粋):
【請求項1】TiN膜をSi基板上に有する半導体装置の製造方法において、TiN生成量以下のNを含有する第1のTi膜を形成し、次に、N2またはNH3を含有する不活性ガス雰囲気中でアニールを行い、前記第1のTi膜を等量のTiN膜に変換することを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (1件):
H01L 21/28 301
FI (1件):
H01L 21/28 301 R
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭60-060720
  • 特開昭62-036844

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