特許

J-GLOBAL ID：201103068205745790

臭素酸イオンの測定方法および装置

発明者： 五十嵐 淑郎 ,  加藤 潤 ,  田中 良春
出願人/特許権者： 国立大学法人茨城大学 ,  メタウォーター株式会社
代理人 (10件)： 奥山 尚一 ,  有原 幸一 ,  松島 鉄男 ,  河村 英文 ,  吉田 尚美 ,  中村 綾子 ,  深川 英里 ,  森本 聡二 ,  角田 恭子 ,  広瀬 幹規
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2009055238
公開番号（公開出願番号）：WO2009-116554
出願日： 2009年03月18日
公開日（公表日）： 2009年09月24日
要約：

従来の臭素酸イオン測定法よりも、簡便かつ迅速に高感度な測定結果を得られる臭素酸イオン測定法を提供する。臭素酸イオンとの共存により消光する蛍光物質を試料130に添加し、前記蛍光物質の消光後の蛍光強度を計測し、臭素酸イオンを含まない標準試料の蛍光強度から、前記測定した蛍光強度を減算し、蛍光強度差を算出する。予め求めておいた蛍光強度差と臭素酸イオン濃度との検量線を用いて、前記算出した蛍光強度差から臭素酸イオン濃度を算出する。

請求項（抜粋）：

試料中に含まれる臭素酸イオンの測定方法であって、 酸性条件下で臭素酸イオンとの共存により消光する蛍光物質を前記試料に添加と混合する工程と、 前記蛍光物質の消光後の蛍光強度を計測する工程と、 臭素酸イオンを含まない標準試料の蛍光強度から、前記測定した蛍光強度を減算し、蛍光強度差を算出する工程と、 予め求めておいた蛍光強度差と臭素酸イオン濃度との検量線を用いて、前記算出した蛍光強度差から臭素酸イオン濃度を算出する工程と を含む臭素酸イオンの測定方法。

IPC (3件)：

G01N 31/00 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/78

FI (4件)：

G01N31/00 Q ,  G01N31/00 Y ,  G01N21/64 C ,  G01N21/78 C

Fターム (38件)：

2G042AA01 ,  2G042BB18 ,  2G042CB03 ,  2G042DA08 ,  2G042FA11 ,  2G043AA01 ,  2G043BA06 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043DA08 ,  2G043EA01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043LA02 ,  2G043NA11 ,  2G043NA13 ,  2G054AA02 ,  2G054AB07 ,  2G054BB10 ,  2G054BB13 ,  2G054BB20 ,  2G054CA10 ,  2G054CE02 ,  2G054EA03 ,  2G054EA07 ,  2G054EB01 ,  2G054EB05 ,  2G054FA36 ,  2G054GA02 ,  2G054GA03 ,  2G054GA04 ,  2G054GB02 ,  2G054JA06 ,  2G054JA09