特許

J-GLOBAL ID：201103068475103987

画像処理装置及び画像処理システム

発明者： 石阪 修吾
出願人/特許権者： コニカミノルタエムジー株式会社
代理人 (1件)： 荒船 博司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-244089
公開番号（公開出願番号）：特開2011-087781
出願日： 2009年10月23日
公開日（公表日）： 2011年05月06日
要約：

【課題】様々な撮影に対応して、迅速かつ適切な欠陥画素補正を行うことのできる画像処理装置及び画像処理システムを提供する。【解決手段】電荷蓄積時間に応じた複数種類の欠陥画素マップa,b,c・・・を記憶する記憶部52と、記憶部52の中から、放射線画像形成装置2の電荷蓄積時間に応じた欠陥画素マップa,b,c・・・を抽出し、この欠陥画素マップa,b,c・・・を用いて放射線画像形成装置2における欠陥画素を補正する制御部51と、を備えている。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

画素を構成する放射線検出素子が2次元マトリクス状に複数配列された検出部を備え前記放射線検出素子内に蓄積された電荷を読み出してこの蓄積された電荷量に応じた画像を形成する放射線画像形成装置における欠陥画素を補正する画像処理装置であって、 電荷蓄積時間に応じた複数種類の欠陥画素マップを記憶するマップ記憶手段と、 前記マップ記憶手段の中から、前記放射線画像形成装置の電荷蓄積時間に応じた前記欠陥画素マップを抽出するマップ抽出手段と、 前記マップ抽出手段により抽出された前記欠陥画素マップを用いて前記放射線画像形成装置における欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段と、 を備えていることを特徴とする画像処理装置。

IPC (5件)：

A61B 6/00 ,  H04N 1/40 ,  G01T 1/20 ,  G01T 1/24 ,  G01T 1/17

FI (7件)：

A61B6/00 350M ,  H04N1/40 101G ,  G01T1/20 G ,  G01T1/20 E ,  G01T1/24 ,  G01T1/17 E ,  A61B6/00 300S

Fターム (37件)：

2G088EE03 ,  2G088FF02 ,  2G088GG19 ,  2G088GG20 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ33 ,  2G088KK32 ,  2G088LL15 ,  2G088LL17 ,  2G088LL26 ,  4C093AA03 ,  4C093CA13 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FA13 ,  4C093FA32 ,  4C093FA42 ,  4C093FA44 ,  4C093FA52 ,  4C093FA60 ,  4C093FC11 ,  4C093FC30 ,  4C093FD07 ,  4C093FH06 ,  4C093FH07 ,  5C077LL02 ,  5C077LL19 ,  5C077MP10 ,  5C077PP11 ,  5C077PP12 ,  5C077PP57 ,  5C077PQ20 ,  5C077PQ23 ,  5C077SS06 ,  5C077TT10

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 放射線画像処理方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-127096   出願人：富士フイルム株式会社