特許

J-GLOBAL ID：201103068704865918

ベベルギア機構におけるバックラッシュシムの厚さ決定工程で使用する測定装置

発明者： 平井 誠一 ,  池田 透 ,  市沢 隆 ,  横田 忠夫
出願人/特許権者： 本田技研工業株式会社
代理人 (1件)： 北村 欣一 (外3名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平1-303637
公開番号（公開出願番号）：特開平3-163327
特許番号：特許第2884421号
出願日： 1989年11月22日
公開日（公表日）： 1991年07月15日
請求項（抜粋）：

【請求項1】ケース内に第1と第2の1対のベベルギアを収納し、第1ベベルギアをその軸方向先方にのびる軸部に装着した第1円錐ころ軸受を介してケース内に軸支すると共に、第2ベベルギアをその軸方向背方にのびる軸部においてケース内に装着した第2円錐ころ軸受に挿通軸支するようにしたベベルギア機構に、前記第1円錐ころ軸受の外輪端面とこれに対向するケース内の受面との間に介在させて設ける第1シムの厚さをt1、前記第2ベベルギアの背面とこれに対向する前記第2円錐ころ軸受の内輪端面との間に介在させて設ける第2シムの厚さをt2とし、前記第2ベベルギアが収納される前記ケース内の空間部中心から前記受面までの距離をY、前記第2円錐ころ軸受を前記ケース内に装着した状態で測定した前記第1ベベルギアが収納される該ケース内の空間部中心から該第2円錐ころ軸受の内輪端面までの距離をW、ケース外において前記両ベベルギアを適正なバックラッシュを与えて噛合わせた状態で測定した前記第2ベベルギアの中心から前記第1ベベルギアの軸方向の基準点までの距離をZ、Zの測定と同じ噛合わせ状態で測定した前記第1ベベルギアの中心から前記第2ベベルギアの背面までの距離をV、前記第1ベベルギアの軸部に前記第1円錐ころ軸受を装着した状態で測定した前記基準点から該第1円錐ころ軸受の外輪端面までの距離をXとして、次式t1=Y+Z-Xt2=W-Vによりt1とt2を決定する工程で前記Wと前記Yとを計測するために使用する測定装置であって、前記ケースを支持する治具板と、前記治具板に対し前記第2ベベルギアの軸方向に移動自在で、且つ、ばねにより該軸方向先方に付勢される可動枠であって、前記治具板に支持される前記ケースの第1ベベルギアの収納空間部に挿入されるブラケットを固設して成るものと、前記ブラケットに軸支した、前記第2円錐ころ軸受の内輪に嵌合可能な回転軸であって、該内輪の端面に当接可能なフランジを有するものと、前記可動枠に搭載した前記回転軸用の回転駆動装置と、前記治具板に支持される前記ケースを前記第2ベベルギアの軸方向先方に押圧する、前記可動枠に搭載した押圧装置と、前記ケースに対する前記回転軸の前記第2ベベルギアの軸方向変位を検出する第1変位検出器と、前記ブラケットに対する前記受面の前記第1ベベルギアの軸方向変位を検出する第2変位検出器とを備え、前記押圧装置により前記ケースを押圧すると共に前記回転駆動装置により前記回転軸を回転させた状態で検出される前記第1変位検出器の検出値から前記Wを計測し、前記第2変位検出器の検出値から上記Yを計測する、ことを特徴とするベベルギア機構におけるバックラッシュシムの厚さ決定工程で使用する測定装置。

IPC (2件)：

G01M 13/02 ,  G01B 21/20 102

FI (2件)：

G01M 13/02 ,  G01B 21/20 102 Z

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭63-180767
  
• 特開昭62-298712