特許
J-GLOBAL ID：201103068848311941
座標測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松浦 憲三
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平1-074679
公開番号（公開出願番号）：特開平2-253113
特許番号：特許第2551652号
出願日： 1989年03月27日
公開日（公表日）： 1990年10月11日
請求項（抜粋）：
【請求項1】変位検出プローブの変位データと該変位検出プローブを移動させるキャリッジの移動位置データとを演算して測定物の表面形状等を測定する座標測定装置において、前記変位検出プローブの先端に被測定物との接触検知を行う接触検知プローブを取り付け、該接触検知プローブによって被測定物との接触を検出したとき、前記キャリッジの位置データをラッチし、ラッチ後所定時間内に前記変位検出プローブの変位データが予め設定した閾値を越えた場合に、前記ラッチした位置データを有効として読み込むようにしたことを特徴とする座標測定装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01B 21/20 101 P
, G01B 21/20 P
