特許
J-GLOBAL ID：201103069703834225
ホログラム体の検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
佐藤 一雄
, 永井 浩之
, 岡田 淳平
, 黒瀬 雅志
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-239906
公開番号（公開出願番号）：特開2002-055233
特許番号：特許第4368046号
出願日： 2000年08月08日
公開日（公表日）： 2002年02月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 集光性の要素ホログラムを多数配置したホログラムアレーと、ホログラムアレーの一面に接着剤を介して設けられた薄板ガラスと、ホログラムアレーの他面に設けられた基板ガラスとを備え、基板ガラスのホログラムアレー側の面に、金属マークを設け、この金属マークはクロム層と酸化クロム層を有する積層構造を有していることを特徴とするホログラム体の検査方法において、ホログラム体に基板ガラス側から光を入射して、ホログラムアレーおよび薄板ガラスを通る光を対物レンズおよびCCDカメラに入射して、ホログラムアレーの各要素ホログラムの焦点位置を求める工程と、
ホログラム体に薄板ガラス側から光を入射してホログラムアレーおよび基板ガラスを通し、基板ガラスの金属マークから反射する光を対物レンズおよびCCDカメラに入射して、基板ガラスのホログラムアレー側の面の位置を求める工程と、
上記のように求めた各要素ホログラムの焦点位置と基板ガラスのホログラムアレー側の面の位置とによって、各要素ホログラムの焦点距離を求める工程と、
を備えたことを特徴とするホログラム体の検査方法。
IPC (5件)：
G02B 5/32 ( 200 6.01)
, G02B 5/20 ( 200 6.01)
, G02F 1/1335 ( 200 6.01)
, G03H 1/08 ( 200 6.01)
, G03H 1/20 ( 200 6.01)
G02B 5/32
, G02B 5/20 101
, G02F 1/133
, G03H 1/08
, G03H 1/20
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (10件)
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