特許

J-GLOBAL ID：201103069883003504

非円形の単一のスタンダートを用いたX線スキャナの較正方法とシステム

発明者： アンドレイ フェルドマン ,  ドミニック コルニュジョル
出願人/特許権者： ジェネラル エレクトリック セージェーエール ソシエテ アノニム
代理人 (1件)： 越場 隆
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平1-074791
公開番号（公開出願番号）：特開平1-316682
特許番号：特許第2753516号
出願日： 1989年03月27日
公開日（公表日）： 1989年12月21日
請求項（抜粋）：

【請求項1】円形でない形状の単一のスタンダードを用いてX線源とNチャネル検出装置を備えるX線スキャナを較正する方法であって、a)スタンダードをX線源と検出装置の間に設置し、b)回転構造体のP個の主要角度位置と、各主要角度位置のまわりで互いに隣接したn個の単位位置または視野とに対して上記検出装置のN個のチャネルで減衰を測定し、c)各チャネルとP個の主要角度位置のそれぞれとに対してn個の減衰の平均を計算し、d)P個の主要角度位置のそれぞれについて1つのチャネルから次のチャネルへと減衰のN個の平均値を滑らかにして、チャネルの位置の関数として高周波数成分が除去された減衰応答曲線を得る操作を含み、このようにして得られた応答曲線は、N個のチャネルのそれぞれの位置の関数としてスタンダードにより導入された減衰の変化の実際の曲線であることを特徴とする較正方法。

IPC (3件)：

A61B 6/03 ,  A61B 6/03 321 ,  A61B 6/03 350

FI (3件)：

A61B 6/03 F ,  A61B 6/03 321 J ,  A61B 6/03 350 F