特許
J-GLOBAL ID：201103070703553500
電気機器のための光学測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
山口 巖
, 山本 浩
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-548502
特許番号：特許第4588957号
出願日： 2000年12月11日
請求項（抜粋）：
【請求項1】コイルコア基体(11)に設けられた、2つの側面壁(121、122)を有すると共に開口を有する溝(12)内に電気導体(13、131、132)が圧入された電気機器(80)内に装着される、少なくとも1つの光センサ(51、52、53)と、前記光センサ(51、52、53)に接続されて、当該光センサ(51、52、53)からの光信号(LS)を伝送する光ファイバ(30)と、前記光センサ(51、52、53)に前記光ファイバ(30)を介して接続されて前記コイルコア基体(11)および/または前記電気導体(13、131、132)の温度を評価する評価装置(70)とを備えた光学測定装置であって、
前記光センサ(51、52、53)と前記光ファイバ(30)における前記光センサ(51、52、53)に対して近接したセンサ近接部(31)とが、前記溝(12)内で、前記電気機器(80)の製造時および/または運転時に掛かる機械荷重が前記側面壁(121、122)よりも小さい部位として、前記側面壁(121、122)から離れた部位である前記電気導体(13、131、132)の側面(137)に配置されている
ことを特徴とする電気機器のための光学測定装置。
IPC (2件)：
H02K 11/00 ( 200 6.01)
, G01K 11/12 ( 200 6.01)
H02K 11/00 E
, G01K 11/12 F
