特許
J-GLOBAL ID:201103071326890071
電解コンデンサを製造するためのプロセス
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
正林 真之
, 林 一好
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-509910
公開番号(公開出願番号):特表2011-521464
出願日: 2009年04月22日
公開日(公表日): 2011年07月21日
要約:
本発明は、高キャパシタンスおよび低等価直列抵抗を有する電解コンデンサを製造するための方法、当該方法によって製造される電解コンデンサ、ならびにこの種の電解コンデンサの使用に関する。当該方法によれば、多孔性電極体(2)の誘電体表面(3)は分散液(A)で覆われる。任意に置換されている電気伝導性のポリチオフェンの分散液粒子(B)は分散剤(D)を含有する。この分散液A)について、0.4%固形分〜5%固形分の積分範囲における固形分含量の関数として表される粘度の積分は2500mPas%未満であり、この粘度はレオメータを用いて20°Cおよび100s-1のせん断速度においてmPas単位で測定され、固形分含量は%で求められる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
電解コンデンサを製造するためのプロセスであって、少なくとも、
a)電極材料の多孔性電極体(2)およびこの電極材料の表面を覆う誘電体(3)を少なくとも含む多孔質体の上に、任意に置換されている電気伝導性のポリチオフェンの粒子B)および分散剤D)を少なくとも含む分散液A)が付与され、
b)この分散剤D)を少なくとも部分的に取り除くことにより、前記誘電体表面を部分的にまたは完全に覆う固体電解質(4)が形成されることを含み、
前記分散液A)について、0.4%固形分〜5%固形分の積分範囲における固形分含量の関数として表される粘度の積分が2500mPas%未満であり、前記粘度はレオメータを用いて20°Cおよび100s-1のせん断速度においてmPas単位で測定され、前記固形分含量は%で求められることを特徴とするプロセス。
IPC (3件):
H01G 9/028
, C08G 61/12
, C08L 65/00
FI (4件):
H01G9/02 331H
, H01G9/02 331G
, C08G61/12
, C08L65/00
Fターム (31件):
4J002BC122
, 4J002BG012
, 4J002BQ002
, 4J002CE001
, 4J002DE026
, 4J002EC036
, 4J002EC048
, 4J002EC058
, 4J002EL068
, 4J002EP018
, 4J002EU028
, 4J002EU188
, 4J002EV208
, 4J002EV237
, 4J002EX018
, 4J002EX068
, 4J002EX078
, 4J002EX088
, 4J002FB206
, 4J002FB207
, 4J002FD118
, 4J002FD148
, 4J002FD208
, 4J002GQ02
, 4J002HA06
, 4J032BA04
, 4J032BB01
, 4J032BB04
, 4J032BB10
, 4J032BC03
, 4J032CG01
引用特許:
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