特許
J-GLOBAL ID:201103072533799757

固体電解コンデンサおよびその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫 ,  佐々木 眞人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-198240
公開番号(公開出願番号):特開2011-049458
出願日: 2009年08月28日
公開日(公表日): 2011年03月10日
要約:
【課題】ショートの発生が抑制された固体電解コンデンサ、およびその製造方法に関する。【解決手段】表面に誘電体被膜が形成された陽極体と、誘電体被膜上に形成された導電性高分子層と、を備える固体電解コンデンサであって、導電性高分子層は、少なくとも、誘電体被膜上に形成された第1導電性高分子層と、該第1導電性高分子層上に形成された第2導電性高分子層とを備え、第1導電性高分子層および第2導電性高分子層はシラン化合物を含み、第1導電性高分子層中のシラン化合物の濃度と第2導電性高分子層中のシラン化合物の濃度とが異なる、固体電解コンデンサの製造方法である。【選択図】図2
請求項(抜粋):
表面に誘電体被膜が形成された陽極体と、前記誘電体被膜上に形成された導電性高分子層と、を備える固体電解コンデンサであって、 前記導電性高分子層は、少なくとも、前記誘電体被膜上に形成された第1導電性高分子層と、該第1導電性高分子層上に形成された第2導電性高分子層とを備え、 前記第1導電性高分子層および前記第2導電性高分子層はシラン化合物を含み、 前記第1導電性高分子層中のシラン化合物の濃度と前記第2導電性高分子層中のシラン化合物の濃度とが異なる、固体電解コンデンサ。
IPC (3件):
H01G 9/028 ,  H01G 9/052 ,  H01G 9/00
FI (5件):
H01G9/02 331F ,  H01G9/02 331G ,  H01G9/02 331H ,  H01G9/05 K ,  H01G9/24 C
引用特許:
審査官引用 (1件)

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