特許
J-GLOBAL ID：201103072761383463
光パルス時間ずれ検出・測定方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
光石 俊郎 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-023399
公開番号（公開出願番号）：特開2000-221082
特許番号：特許第3380764号
出願日： 1999年02月01日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 第一の光パルスと、第二の光パルスを相互相関器に入射し、該相互相関器において、光非線形効果を有する媒質中に合波・結焦し、発生する非線形信号を電気信号に変換し、該信号から、上記2つの光パルスの相対的時間ずれを検出する方法において、上記2つの光パルスの夫々を上記相互相関器に達する以前に二分し、得られる2つの光パルス夫々の複製を、上記相互相関器へとは異なる相対遅延時間を付与した上で、別個の相互相関器に入射し、該別個の相互相関器において、光非線形効果を有する媒質中に合波・結焦し、発生する非線形信号を電気信号に変換し、上記相互相関器に由来する電気信号と、該別個の相互相関器に由来する電気信号の差に基づいて、上記2つの光パルスの相対的時間ずれを検出することを特徴とする光パルス時間ずれ検出・測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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