特許
J-GLOBAL ID：201103074637826015

基板支持状態検査方法

発明者：
門松 純男

門松 純男 について

, 
河合 孝昌

河合 孝昌 について


出願人/特許権者：
富士機械製造株式会社

富士機械製造株式会社 について


代理人 (3件)： 神戸 典和 ,  池田 治幸 ,  中島 三千雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-003719
公開番号（公開出願番号）：特開2001-196799
特許番号：特許第4456709号
出願日： 2000年01月12日
公開日（公表日）： 2001年07月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】両面の一方である第1面に既に電気部品が装着されており、その第1面において基板支持装置に支持されたプリント基板の、反対側の面である第2面に、電気部品保持装置に保持させた電気部品を装着する際に、前記基板支持装置によるプリント基板の支持状態を検査する方法であって、 前記基板支持装置として、前記プリント基板を、前記第1面の、プリント基板の種類に応じて予め設定された被支持位置においてスポット状に支持する支持部材を含むものを使用し、前記プリント基板に設けた基準マークを撮像装置によって撮像し、その撮像によって取得した画像内における前記基準マークの像の実際の位置である実マーク位置が、前記支持部材と前記第1面に既に装着されている電気部品とが互いに干渉しない大きさの許容範囲で設定した設定マーク位置の前記許容範囲内にあるか否かに基づいて、前記基板支持装置によるプリント基板の支持状態が正常であるか異常であるかを判定することを特徴とする基板支持状態検査方法。
IPC (2件)：
H05K 13/08 ( 200 6.01) ,  H05K 13/04 ( 200 6.01)
FI (2件)：
H05K 13/08 Q ,  H05K 13/04 P
引用特許：
審査官引用 (4件)
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