特許
J-GLOBAL ID:201103076325887117
質量分析装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
井上 学
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-118489
公開番号(公開出願番号):特開2001-297730
特許番号:特許第3855593号
出願日: 2000年04月14日
公開日(公表日): 2001年10月26日
請求項(抜粋):
【請求項1】 イオン源と、リング電極と該リング電極を挟んで配置されるエンドキャップ電極とから構成されるイオントラップと、該イオントラップから射出されたイオンを加速電場により加速する加速部と、加速された前記イオンの飛行時間を測定する飛行時間測定部とを備え、前記加速電場の方向と前記イオントラップからの前記イオンの射出方向は90度より大きい角度をなすことを特徴とする質量分析装置。
IPC (3件):
H01J 49/42 ( 200 6.01)
, H01J 49/40 ( 200 6.01)
, G01N 27/62 ( 200 6.01)
FI (4件):
H01J 49/42
, H01J 49/40
, G01N 27/62 K
, G01N 27/62 L
引用特許:
審査官引用 (2件)
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質量分析計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-011239
出願人:株式会社日立製作所
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唾液の分析方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-174620
出願人:株式会社日立製作所
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