特許
J-GLOBAL ID:201103076339436363
分光計の測定スペクトルにおける望まれないコンポーネントの抑圧方法及び装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
矢野 敏雄
, 山崎 利臣
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-153638
公開番号(公開出願番号):特開2000-074827
特許番号:特許第4510175号
出願日: 1999年06月01日
公開日(公表日): 2000年03月14日
請求項(抜粋):
【請求項1】 分析用放射の源(10)と、調査対象サンプルを通して送られる放射、又はそのサンプルから反射する放射を検出するための検出器(14)と、調査対象サンプルに関連するスペクトルデータを発生させるために、前記検出器(14)の出力を処理する処理用装置(16)とを含んでいる分光計において、
スペクトルデータ中の水蒸気又は二酸化炭素のような必要とされないコンポーネントの影響を抑圧するためにプロセッサが配置され、
該プロセッサは、
・前記必要とされない1つ又は複数のコンポーネントの高精細度スペクトルを表す基準データを取得し、
・該基準データの精細度が分光計の精細度をシミュレートするよう前記基準データを変更し、
・サンプルスペクトル内の摂動影響が許容されるように前記変更された基準データをフィルタし、
・そして前記変更され、フィルタされた基準データを測定されたサンプルスペクトルから差し引いて、補正された出力データを提供し、
前記基準データの変更では、当該基準データを処理し、測定されているサンプルスペクトルデータに整合するようにまで精細度を拡大し、
前記精細度の拡大では、コンボリューション技法が実行され、
該コンボリューション技法においては、前記基準データは分光計に適切な、計算されたライン形状関数でコンボリュートされ、
前記基準データの変更と前記精細度の拡大は、前記必要とされない1つ又は複数のコンポーネントの異なった濃度を表す異なった基準データに関して繰り返される、
ことを特徴とする分光計。
IPC (3件):
G01N 21/27 ( 200 6.01)
, G01J 3/42 ( 200 6.01)
, G01N 21/35 ( 200 6.01)
FI (4件):
G01N 21/27 Z
, G01J 3/42 U
, G01N 21/35 A
, G01N 21/35 Z
引用特許:
出願人引用 (4件)
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特表平6-502247
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特開昭63-212826
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特開昭62-261032
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