特許
J-GLOBAL ID:201103076740963759

直方体の寸法測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 日比谷 征彦
公報種別:特許公告
出願番号(国際出願番号):特願平1-100639
公開番号(公開出願番号):特開平2-280002
出願日: 1989年04月20日
公開日(公表日): 1990年11月16日
請求項(抜粋):
【請求項1】直方体の下隅部の両側面に当接し互いに直交する2つの側辺部を有し、延在する面が直方体を載置する床面と交叉する線分を前記下隅部の頂部に接すると共に該線分が前記2つの側辺部に対して等角度に位置する板体を有し、該板体を鉛直線に対してtanα=(1/2)1/2を満足する角度αで前記側辺部に対し外側に傾斜させた第1の測定具と、直方体の上隅部の両側面及び上面にそれぞれ当接し互いに直交する2つの側辺部及び上辺部を有し、前記直方体の上面に沿ってかつこれら2つの側辺部の二等分線に沿って又は平行して繰り出し可能なスケールを有する第2の測定具とから成ることを特徴とする直方体の寸法測定装置。
IPC (2件):
G01B 5/02 A 8605-2F ,  G01B 5/02 Z 8605-2F

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