特許

J-GLOBAL ID：201103077143398818

光コネクタの検査方法および検査装置

発明者： 大村 真樹 ,  田村 充章 ,  佐々木 大 ,  木村 哲 ,  大塚 健一郎 ,  冨田 茂 ,  小山 良
出願人/特許権者： 住友電気工業株式会社 ,  日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 内藤 照雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-265156
公開番号（公開出願番号）：特開2011-107609
出願日： 2009年11月20日
公開日（公表日）： 2011年06月02日
要約：

【課題】内蔵光ファイバとの接続点が無く、ファイバ端面に押圧力を付与する方式の光コネクタにおいても、組立完了後の性能確認を簡単にできるようにする。【解決手段】光ファイバ11を撓ませる撓み部13を有したフェルール21に、光ファイバ11を挿入して撓み部13で光ファイバ11を撓ませた状態で組み立てる光コネクタ100の検査方法であって、フェルール21に検査用フェルールを対向させ、検査用フェルールをフェルール21に当接させる前後での撓み部13における光ファイバ11の撓み変化量を観察する。また、検査用フェルールから可視光をフェルール21に入射し、漏れ光の有無を確認してもよい。検査方法に用いる検査装置は、光ファイバが挿通された検査用フェルールと、撓み部13を観察する光学系とを備える。また、検査用フェルールには、光ファイバに可視光を入射する可視光源をさらに備えることができる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

フェルールと、前記フェルールに挿入する光ファイバを撓ませる撓み部を有し、前記光ファイバを挿入して前記撓み部で前記光ファイバを撓ませた状態で組み立てる光コネクタの検査方法であって、 前記フェルールに検査用フェルールを対向させ、該検査用フェルールを前記フェルールに当接させる前後での前記撓み部における前記光ファイバの撓み変化量を観察することを特徴とする光コネクタの検査方法。

IPC (2件)：

G02B 6/36 ,  G01M 11/00

FI (2件)：

G02B6/36 ,  G01M11/00 S

Fターム (5件)：

2H036QA03 ,  2H036QA12 ,  2H036QA13 ,  2H036QA22 ,  2H036QA33