特許
J-GLOBAL ID：201103077636670835
製造職場の不良の起こし易さ評価方法及びその装置、製品の組立作業不良率評価方法及びその装置並びに記録媒体
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
特許業務法人 日東国際特許事務所
, 小川 勝男
, 田中 恭助
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-273368
公開番号（公開出願番号）：特開2001-100838
特許番号：特許第3732053号
出願日： 1999年09月27日
公開日（公表日）： 2001年04月13日
請求項（抜粋）：
【請求項1】記憶手段と入力手段と評価手段と出力手段とを備えた評価装置を用いて評価対象の製造職場における不良の起こし易さを評価推定する製造職場の不良の起こし易さ評価方法であって、
予め設定された作業者、製造設備、製造条件、製造物理的環境、およびマネージメントからなる評価カテゴリに関する複数の職場条件不良影響項目と該各職場条件不良影響項目について少なくとも基準職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良発生抑制力となる不良作り込み係数、不良発生時対処力となる不良対処時間係数、および不良検出力となる不良摘出度係数との対応関係並びに前記各職場条件不良影響項目における項目間相対的重み係数を示す職場評価用データベースを予め作成して前記記憶手段に記憶しておく職場データベース記憶過程と、
前記入力手段を用いて、評価対象の製造職場における前記各職場条件不良影響項目についての少なくとも職場水準レベルを入力する職場水準入力過程と、
前記評価手段を用いて、前記職場データベース記憶過程で記憶しておかれた職場評価用データベースにおける少なくとも基準職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良作り込み係数、不良対処時間係数、および不良摘出度係数との対応関係を基に、前記職場水準入力過程で入力された各職場条件不良影響項目についての職場水準レベルに対応させ、更に前記各職場条件不良影響項目における項目間相対的重み係数を掛算して不良作り込み度の指標、不良対処時間度合の指標、及び不良摘出度の指標の各々を算出し、該算出された3つの指標の各々を所望の多数の職場条件不良影響項目に亘って累計し、該各々累計された不良作り込み度の指標の合計値と不良対処時間度合の指標の合計値と不良摘出度の指標の合計値とを掛算することによって評価対象の製造職場における基準製造作業に対する職場不良率を示す指標を算出して評価対象の製造職場における不良の起こし易さを評価推定する職場評価過程とを有することを特徴とする製造職場の不良の起こし易さ評価方法。
IPC (2件)：
G05B 23/02 ( 200 6.01)
, G05B 19/418 ( 200 6.01)
G05B 23/02 302 Y
, G05B 19/418 Z
