特許
J-GLOBAL ID:201103077668259711
SIR測定装置及びSIR測定方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鷲田 公一
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-006764
公開番号(公開出願番号):特開2001-197017
特許番号:特許第3545663号
出願日: 2000年01月14日
公開日(公表日): 2001年07月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】受信信号より希望波の電力を検出する希望波電力検出手段と、前記受信信号より干渉波の電力を検出する干渉波電力検出手段と、前記干渉波電力検出手段の出力を平均する平均化手段と、前記干渉波電力検出手段の出力より干渉波電力の変動量の大きさを検出する干渉変動量検出手段と、前記干渉変動量検出手段の出力に応じて前記平均化手段における平均長を可変する平均長可変手段と、前記希望波電力検出手段の出力と前記平均化手段の出力との比を求めるSIR計算手段と、を具備することを特徴とするSIR測定装置。
IPC (3件):
H04B 7/26
, G01R 29/26
, H04B 17/00
FI (3件):
H04B 7/26 K
, G01R 29/26 A
, H04B 17/00 M
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