特許
J-GLOBAL ID:201103079037767785
X線平面検出装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
外川 英明
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-186846
公開番号(公開出願番号):特開2001-015726
特許番号:特許第3469130号
出願日: 1999年06月30日
公開日(公表日): 2001年01月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】複数のガラス支持台を張り合わせた基板と、入射したX線のX線量に対応する電荷を形成するX線変換系と、前記X線変換系で形成された電荷に基づいた画像データを出力するX線検出系と、水分の透過を抑える防湿手段とを備え、前記X線変換系は、前記複数のガラス支持台を張り合わせて基板を形成したうえで前記X線検出系上に積層され、さらに前記防湿手段を前記X線変換系上に積層することを特徴とするX線平面検出装置。
IPC (3件):
H01L 27/14
, G01T 1/20
, G01T 1/24
FI (5件):
G01T 1/20 D
, G01T 1/20 Z
, G01T 1/24
, H01L 27/14 K
, H01L 27/14 D
引用特許:
出願人引用 (3件)
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特開昭48-038088
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撮像装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-241562
出願人:キヤノン株式会社
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特開昭59-036932
審査官引用 (7件)
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