特許
J-GLOBAL ID：201103079561180430
画像処理装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
吉田 茂明
, 吉竹 英俊
, 有田 貴弘
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-256181
公開番号（公開出願番号）：特開2001-086368
特許番号：特許第3734652号
出願日： 1999年09月09日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
請求項（抜粋）：
【請求項1】画像に対して処理を施す画像処理装置であって、
画像から周期的な画像パターンの繰り返しが存在する周期画像領域を抽出する周期画像領域抽出手段と、
前記周期画像領域における注目画素について、当該注目画素を含む注目領域と当該注目領域以外の周辺領域との相関特性に基づいて画像パターンの繰り返しの有無の程度を示す周期性指標を算出する周期性指標算出手段と、
前記周期性指標によって表現された周期性指標画像を加工することによって加工後周期性指標画像を取得し、当該加工後周期性指標画像における前記注目画素の加工後周期性指標を算出する加工後周期性指標算出手段と、
前記画像における注目画素とその周辺画素との明暗比を示す指標であるコントラスト量を算出するコントラスト量算出手段と、
前記加工後周期性指標および前記コントラスト量に基づいて、前記画像における注目画素についてのぼかし処理の程度であるぼかし量を決定するぼかし量決定手段と、
前記周期性指標、前記加工後周期性指標および前記コントラスト量に基づいて、前記画像における注目画素についてのシフト処理の程度であるシフト量を決定するシフト量決定手段と、
前記ぼかし量決定手段により決定されたぼかし量に基づいて、前記画像における注目画素についてのぼかし処理を行うぼかし処理手段と、
前記シフト量決定手段により決定されたシフト量に基づいて、前記画像における注目画素についてのシフト処理を行うシフト処理手段と、
を備え、
前記加工後周期性指標算出手段は、
前記周期性指標画像内を複数の領域に分割し、前記複数の領域のそれぞれに含まれる画素の階調値を平均化して1つの画素の階調値として出力することにより、前記周期性指標画像をバイリニア縮小する縮小手段と、
前記バイリニア縮小によって得られた縮小画像に対してメディアンフィルタによるフィルタ操作を施すフィルタ手段と、
前記フィルタ操作後の縮小画像に含まれる画素の階調値を補間しつつ、当該縮小画像を前記周期性指標画像と同等の大きさに拡大することにより、前記加工後周期性指標画像を得る拡大手段と、
を含むことを特徴とする画像処理装置。
IPC (3件)：
H04N 1/405 ( 200 6.01)
, G06T 5/00 ( 200 6.01)
, H04N 5/21 ( 200 6.01)
H04N 1/40 104
, G06T 5/00 100
, H04N 5/21 B
