特許
J-GLOBAL ID：201103079601328029
勾配磁場計測方法およびMRI装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
有近 紳志郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-262927
公開番号（公開出願番号）：特開2001-078986
特許番号：特許第3423902号
出願日： 1999年09月17日
公開日（公表日）： 2001年03月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 1つのFID信号からデータをサンプリングする回数をTとし、2以上の自然数をKとするとき、励起RFパルスを印加し、プリエンコードパルスPkを印加し、計測対象の勾配波形のエンコードパルスGeを印加しながらFID信号からデータS(k,1)〜S(k,T)を収集することを、前記プリエンコードパルスPkの大きさを変えてK回繰り返し、収集したデータS(1,1)〜S(1,T),S(2,1)〜S(2,T),...,S(K,1)〜S(K,T)より、位相差Δφを角度に持つデータD(1,1)〜D(1,T-1),D(2,1)〜D(2,T-1),...,D(K,1)〜D(K,T-1)を求め、前記エンコードパルスGeの大きさが対応するデータ同士を加算して加算データd(1)〜d(T-1)を求め、その加算データd(1)〜d(T-1)から勾配磁場差ΔG(1)〜ΔG(T-1)を求め、その勾配磁場差ΔG(1)〜ΔG(T-1)を積算して勾配磁場G(1)〜G(T-1)を求めることを特徴とする勾配磁場計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
A61B 5/05 341
, G01N 24/06 530 Y
