特許
J-GLOBAL ID：201103080019757614
テストパタン自動生成装置及びテストパタン自動生成方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 喜平
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-062144
公開番号（公開出願番号）：特開2000-258511
特許番号：特許第3169930号
出願日： 1999年03月09日
公開日（公表日）： 2000年09月22日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 配線に修正を加えた電子回路をテストするテストパタンを生成するテストパタン自動生成装置において、前記修正を加える前の電子回路の情報である旧回路情報と、前記修正を加えた電子回路の情報である新回路情報とに基づき、修正された回路部分を求め、この修正された回路部分の情報である修正箇所情報を出力する修正箇所情報抽出手段と、前記修正を加えた電子回路中の修正箇所の出力が依存する素子のすべての素子の組み合せ状態からなる複数のテストパタンを生成し、これらテストパタンのすべてを前記修正箇所を活性化するための修正箇所活性化パタンとして出力する修正箇所活性化パタン生成手段と、前記新回路情報に基づき、前記修正を加えた電子回路をテストする原テストパタンを生成するテストパタン生成手段と、前記原テストパタンに前記修正箇所活性化パタンをマージすることによって、前記修正前の電子回路と、前記修正後の電子回路とを区別しうるテストパタンを生成する修正箇所活性化パタンマージ手段と、を含むことを特徴とするテストパタン自動生成装置。
IPC (2件)：
G01R 31/3183
, G06F 17/50
G01R 31/28 Q
, G06F 15/60 670
, G06F 15/60 674
