特許
J-GLOBAL ID：201103080036854518

画像欠陥診断システム、画像形成装置、およびプログラム

発明者：
足立 康二

足立 康二 について


出願人/特許権者：
富士ゼロックス株式会社

富士ゼロックス株式会社 について


代理人 (3件)： 古部 次郎 ,  千田 武 ,  久保 洋之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-170631
公開番号（公開出願番号）：特開2011-027798
出願日： 2009年07月21日
公開日（公表日）： 2011年02月10日
要約：
【課題】画像形成装置にて形成された画像に発生した画像欠陥の検出精度を向上させる。【解決手段】画像欠陥に関する検査対象とする検査対象画像の部分領域各々に設定され、部分領域に画像欠陥が発生しているか否かを判定する際の判定基準とする2値化閾値と、2値化閾値が設定された部分領域の検査対象画像上での位置を表す位置情報とを相互に対応付けて2値化閾値記憶部234に記憶しておく。そして、診断部は、検査対象画像を読み取って生成された部分領域各々の画像データを、2値化閾値記憶部234に記憶された部分領域での2値化閾値と比較し、検査対象画像での画像欠陥の発生の有無を診断する。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
画像欠陥に関する検査対象とする検査対象画像の部分領域各々に設定され、当該部分領域に画像欠陥が発生しているか否かを判定する際の判定基準とする画像濃度閾値と、当該画像濃度閾値が設定された当該部分領域の当該検査対象画像上での位置を表す位置情報とを相互に対応付けて記憶する記憶手段と、 前記検査対象画像を読み取って生成された前記部分領域各々の画像データを、前記記憶手段に記憶された当該部分領域での前記画像濃度閾値と比較し、当該検査対象画像での画像欠陥の発生の有無を診断する診断手段と を備えたことを特徴とする画像欠陥診断システム。
IPC (4件)：
G03G 15/00 ,  G03G 21/00 ,  B41J 29/46 ,  G06T 1/00
FI (5件)：
G03G15/00 303 ,  G03G21/00 510 ,  B41J29/46 A ,  B41J29/46 B ,  G06T1/00 310A
Fターム (28件)：
2C061AP01 ,  2C061AP04 ,  2C061AP07 ,  2C061AQ06 ,  2C061KK04 ,  2C061KK13 ,  2C061KK18 ,  2C061KK25 ,  2C061KK28 ,  2C061KK35 ,  2H270LA20 ,  2H270LA22 ,  2H270LD09 ,  2H270MB11 ,  2H270MB14 ,  2H270MB39 ,  2H270MF17 ,  2H270QB07 ,  2H270QB21 ,  2H270RB05 ,  2H270RB09 ,  5B057AA11 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC04 ,  5B057DC22
引用特許：
審査官引用 (3件)

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